日本王子计测OSI光学轴测定装置

日本王子计测OSI光学轴测定装置

王子計測光学軸測定装置 PAM-PR300

■特長

測定方式:回転偏光子法、平行ニコル回転法、直交ニコル回転法

測定波長:590nm(オプション:450nm,550nm, 630nm)

試料寸法:□30～250mm,20mm厚以下

測定面積:33mm2(5.8mm角:受光子面)

測定項目:偏光軸方位、配向角、位相差

測定対象:光学フィルム、偏光板

測定時間:約4秒(偏光軸測定)

王子計測機器株式会社

計測機器の開発・製造・販売■高分子計測機器繊維、分子、屈折率等の異方性(配向性)の解析、マイクロ波分析装置(分子配向計)、位相差測定装置■バイオセンサ生体関連化学物質の微量濃度測定、フローインジェクション方式の分析装置(バイオフロー)、環境計測装置(BODs計他)

应用领域

■高分子测量仪器

相位差薄膜、光学薄膜、通用薄膜、成型制品、橡胶、无纺布、造纸等

■生物传感器

发酵、食品、酒饮料、制药、临床检验、造纸等

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